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產品分類
GALAXY 銀河系列
GALAXY 銀河系列
適用標準
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| 萬能試驗機(全自動引伸計) |
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自適應閉環控制與高精度傳感技術，自動標距定位和試樣夾持，可準確跟蹤測量試驗形變，一次裝樣即可測得彈性模量、斷裂應變、屈服應變等關鍵指標，測試結果準確、穩定、試驗效率高。 |
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1.信息化、智能化
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| 數據集于云端或服務器集中存儲，助力試驗信息高效交互，規避數據丟失損壞風險，安全性高； | ||
| 依托網絡信息化，試驗數據可在不同部門、團隊間便捷共享協作； | ||
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2.智能傳感、高精度測量
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| 多通道高速同步采樣，自動識別傳感器的類別與功能； |
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| 數據采集頻率快、精度高、穩定性好； | ||
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3.人機交互便捷
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| 多終端覆蓋，支持電腦、手機及手持操控器協同操作，實現試驗數據同步顯示與遠程控制，為用戶帶來高效便捷的操作體驗； | ||
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4.簡潔高效的測控軟件
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| TestExplorerll軟件，采用開源設計架構，內置近百種ISO、GB/T、ASTM和EN標準； | ||
| 支持用戶自定義試驗方案、編輯測試流程，并靈活創建試驗方法，滿足科研、質檢等多場景需求，操作高效，擴展性強； | ||
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5.大行程高精度測量系統
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| 800mm全行程范圍內保持高精度，測量分辨力達全程不分檔。采用多通道光學變形測量裝置:0.1μm，實現形變自動跟蹤測量； | ||
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6.伺服跟蹤技術
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| 實時跟蹤、智能感知試樣微小變形，毫秒級響應、平衡技術確保輸出結果準確可靠、重復性好； | ||
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7.標距自動定位
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| 可記憶20mm、25mm、50mm、75mm等多種標距位置，實現任意位置夾頭自動復位。 |
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標準號
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GB/T 16491
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GB/T 9341
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GB/T 13022
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ISO 527
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GB/T 1040
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ISO 178
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GB/T 1041
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ASTM D 638
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銀河系萬能試驗機(全自動引伸計)
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技術參數 Technical Parameter
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測量行程
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≤800mm
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變形示值誤差
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1um或示值的±0.5%以內
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變形分辨力
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0.1μm
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加持試樣范圍
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0～20mm
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jj-test@
400-800-6619
